首页> 外文会议>Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium >A study of the effect of remote CDM clamps in integrated circuits
【24h】

A study of the effect of remote CDM clamps in integrated circuits

机译:远程CDM钳位在集成电路中的作用研究

获取原文

摘要

Cross-domain signals are the largest ESD risk in integrated circuits nowadays. In this paper, a study of the effect of remote CDM clamps in IC's is presented. Predictive ESD simulations are demonstrated by TLP and vf-TLP characterizations and by means of HBM and CDM qualifications of a dedicated ESD testchip.
机译:如今,跨域信号是集成电路中最大的ESD风险。本文对远程CDM钳位在IC中的作用进行了研究。通过TLP和vf-TLP表征以及专用ESD测试芯片的HBM和CDM资格证明了可预测的ESD仿真。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号