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Secondary ESD clamp circuit for CDM protection of over 6 Gbit/s SerDes application in 40 nm CMOS

机译:次级ESD钳位电路,用于40 nm CMOS中超过6 Gbit / s SerDes应用的CDM保护

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摘要

Novel secondary ESD clamp solutions to boost CDM robustness for both RX (input) and TX (output) circuits along with dual diode of primary ESD clamp to meet over 6-Gbit/s SerDes are presented. For RX circuit, active PMOS clamp with no voltage overshoot is used as secondary clamp to GND. For TX circuit, by constructing a secondary ESD path through the pre-driver and pumping-up the gate node of the main-driver using output impedance of pre-driver, an additional series resistor deteriorating SerDes performance is not needed for secondary clamp.
机译:提出了新颖的次级ESD钳位解决方案,以增强RX(输入)和TX(输出)电路的CDM鲁棒性,以及主ESD钳位的双二极管以满足6-Gbit / s以上的SerDes。对于RX电路,使用无电压过冲的有源PMOS钳位作为GND的次级钳位。对于TX电路,通过构建通过预驱动器的次级ESD路径,并使用预驱动器的输出阻抗对主驱动器的栅极节点进行抽运,则不需要额外的串联电阻来降低次级采样的SerDes性能。

著录项

  • 来源
    《Microelectronics & Reliability》 |2013年第2期|215-220|共6页
  • 作者单位

    Renesas Electronics Corporation, 1753 Shimonumabe, Nakahara-Ku, Kawasaki, Kanagawa, Japan;

    Renesas Electronics Corporation, 1753 Shimonumabe, Nakahara-Ku, Kawasaki, Kanagawa, Japan;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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