Structural testing; dynamic current monitoring; power supply current monitoring;
机译:故障覆盖率不完善的M / G / 1容错加工系统的可用性分析和成本优化
机译:基于系数的模拟电路测试中的缺陷级别和故障覆盖率
机译:基于系数的模拟电路测试中的缺陷级别和故障覆盖率
机译:利用特定于缺陷屏蔽的模拟故障覆盖优化
机译:VLSI测试中的故障覆盖率统计模型和优化。
机译:利用掩膜中的小泄漏将二阶攻击转变为一阶攻击并利用线性代码陪集改进旋转替换盒掩蔽
机译:利用缺陷专用掩膜优化模拟故障覆盖率
机译:非线性模拟电路的故障诊断。第四卷。模拟故障字典的隔离算法。