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IEEE European Test Symposium
IEEE European Test Symposium
召开年:
2014
召开地:
Paderborn(DE)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
Reconfigurable high performance architectures: How much are they ready for safety-critical applications?
机译:
可重新配置的高性能体系结构:为安全关键型应用准备了多少?
作者:
Sabena D.
;
Sterpone L.
;
Scholzel Mario
;
Koal Tobias
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
2.
Secure and efficient LBIST for feedback shift register-based cryptographic systems
机译:
用于基于反馈移位寄存器的密码系统的安全高效的LBIST
作者:
Dubrova Elena
;
Naslund Mats
;
Selander Goran
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
3.
Using dynamic shift to reduce test data volume in high-compression designs
机译:
在高压缩设计中使用动态移位来减少测试数据量
作者:
Lin Xijiang
;
Kassab Mark
;
Rajski Janusz
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
4.
Output-bit selection with X-avoidance using multiple counters for test-response compaction
机译:
使用多个计数器的X避免输出位选择,以进行测试响应压缩
作者:
Lien Wei-Cheng
;
Lee Kuen-Jong
;
Chakrabarty Krishnendu
;
Hsieh Tong-Yu
会议名称:
《》
|
2014年
5.
A distance-based test cube merging procedure for compatible and incompatible test cubes
机译:
基于距离的测试立方体合并过程,用于兼容和不兼容的测试立方体
作者:
Pomeranz Irith
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
6.
Logic simulation and fault collapsing with shared structurally synthesized bdds
机译:
使用共享的结构综合bdds进行逻辑仿真和故障崩溃
作者:
Mironov Dmitri
;
Ubar Raimund
;
Raik Jaan
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Shared Structurally Synthesized Binary Decision Diagrams;
digital circuits;
fault collapsing;
logic models;
logic simulation;
7.
Analysis of cell-aware test pattern effectiveness — A case study using a 32-bit automotive microcontroller
机译:
单元感知的测试模式有效性分析-使用32位汽车微控制器的案例研究
作者:
Prabhu Athul
;
Vorisek Vlado
;
Lang Helmut
;
Schumann Thomas
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
ATPG;
Cell-Aware;
DFT;
Design;
for-Test;
8.
A generic and high-level model of large unreliable NoCs for fault tolerance and performance analysis
机译:
大型不可靠NoC的通用高级模型,用于容错和性能分析
作者:
Chaix Fabien
;
Zergainoh Nacer-Eddine
;
Nicolaidis Michael
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
9.
Property-checking based LBIST for improved diagnosability
机译:
基于属性检查的LBIST可提高诊断能力
作者:
Prabhu Sarvesh
;
Acharya Vineeth V.
;
Bagri Sharad
;
Hsiao Michael S.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
10.
A collision resistant deterministic random bit generator with fault attack detection possibilities
机译:
具有故障攻击检测能力的抗碰撞确定性随机位发生器
作者:
Bohl E.
;
Lewis M.
;
Damm K.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Deterministic random bit generator;
collision resistance;
keyed hash function;
one way function;
reverse calculation;
11.
iBoX — Jitter based Power Supply Noise sensor
机译:
iBoX —基于抖动的电源噪声传感器
作者:
Valka M.
;
Bosio A.
;
Dilillo L.
;
Todri A.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Power Supply Noise Sensor;
Timing Uncertainty;
jitter;
12.
A novel adaptive fault tolerant flip-flop architecture based on TMR
机译:
基于TMR的新型自适应容错触发器架构
作者:
Cassano Luca
;
Bosio Alberto
;
Di Natale Giorgio
会议名称:
《》
|
2014年
13.
Towards a general purpose mixed-signal instrumentation layer in the die stack of a 3D-SIC
机译:
迈向3D-SIC芯片堆叠中的通用混合信号仪表层
作者:
Lin Shudong
;
Roberts Gordon W.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
14.
Automatic correction of certain design errors using mutation technique
机译:
使用突变技术自动纠正某些设计错误
作者:
Behnam Payman
;
Alizadeh Bijan
;
Navabi Zainalabedin
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
correction;
debugging;
mutation;
satisfiability;
15.
Power efficient scan testing by exploiting existing error tolerance circuitry in a design
机译:
通过利用设计中现有的容错电路,进行高效的扫描测试
作者:
Anastasiou Anthi
;
Tsiatouhas Yiorgos
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
error tolerance;
low-power scan;
test resources reuse;
16.
GPU-based timing-aware test generation for small delay defects
机译:
基于GPU的时序感知测试生成,可解决小延迟缺陷
作者:
Liao Kuan-Yu
;
Chen Po-Juei
;
Lin Ang-Feng
;
Li James Chien-Mo
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
GPU;
parallel;
small delay defect;
test generation;
17.
Accumulator-based test-per-clock scheme for low-power on-chip application of test patterns
机译:
用于测试模式的低功耗片上应用的基于累加器的按时钟测试方案
作者:
Voyiatzis Ioannis
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
18.
Quantitative evaluation of register vulnerabilities in RTL control paths
机译:
定量评估RTL控制路径中的寄存器漏洞
作者:
Chen Liang
;
Ebrahimi Mojtaba
;
Tahoori Mehdi B.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
19.
Design of low cost fault tolerant analog circuits using real-time learned error compensation
机译:
利用实时学习误差补偿设计低成本容错模拟电路
作者:
Banerjee Suvadeep
;
Gomez-Pau Alvaro
;
Chatterjee Abhijit
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Analog Checksums;
Error Compensation;
Structural Fault;
20.
Homogeneous many-core processor system test distribution and execution mechanism
机译:
同类多核处理器系统测试分配与执行机制
作者:
Kamran Arezoo
;
Navabi Zainalabedin
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
many-core;
online testing;
reconfiguration;
reliability;
test distribution;
21.
Triple error detection for Imai-Kamiyanagi codes based on subsyndrome computations
机译:
基于亚综合征计算的今井上柳编码三重错误检测
作者:
Badack Christian
;
Gossel Michael
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
22.
On-the-fly timing-aware built-in self-repair for high-speed interposer wires in 2.5-D ICs
机译:
实时识别时序的内置自我修复功能,可用于2.5D IC中的高速插入线
作者:
Huang Shi-Yu
;
Zeng Zeng-Fu
;
Tsai Kun-Han
;
Cheng Wu-Tung
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Built-In Self-Repair;
delay test;
interconnect test;
stacked IC;
23.
Verification of the decimal floating-point square root operation
机译:
验证十进制浮点平方根运算
作者:
Ahmed Amr Sayed
;
Fahmy Hossam
;
Kuhne Ulrich
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
24.
Model based generation of high coverage test suites for embedded systems
机译:
基于模型的嵌入式系统高覆盖率测试套件的生成
作者:
Ferrante Orlando
;
Ferrari Alberto
;
Marazza Marco
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
25.
Interleaved scrambling technique: A novel low-power security layer for cache memories
机译:
交错加扰技术:用于高速缓存的新型低功耗安全层
作者:
Neagu Madalin
;
Miclea Liviu
;
Manich Salvador
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
cache memories;
data scrambling;
memory security;
26.
Aging and voltage scaling impacts under neutron-induced soft error rate in SRAM-based FPGAs
机译:
基于SRAM的FPGA中子引起的软错误率下的老化和电压缩放影响
作者:
Kastensmidt Fernanda Lima
;
Tonfat Jorge
;
Both Thiago
;
Rech Paolo
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
FPGA;
aging;
radiation;
volage scalling;
27.
Concurrent online BIST for sequential circuits exploiting input reduction and output space compaction
机译:
并行在线BIST,用于利用输入减少和输出空间压缩的时序电路
作者:
Voyiatzis Ioannis
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
28.
An off-line MDSI interconnect BIST incorporated in BS 1149.1
机译:
BS 1149.1中包含的离线MDSI互连BIST
作者:
Mohammadi Marzieh
;
Sadeghi-Kohan Somayeh
;
Masoumi Nasser
;
Navabi Zainalabedin
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
IEEE 1149.1;
MDSI modeling;
crosstalk fault;
29.
Major eras of Design for Test
机译:
测试设计的主要时代
作者:
Rhines Walden C.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
30.
Factoring variability in the Design/Technology Co Optimisation (DTCO) in advanced CMOS
机译:
高级CMOS中的设计/技术协同优化(DTCO)中的因素可变性
作者:
Asenov Asen
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
31.
Two soft-error mitigation techniques for functional units of DSP processors
机译:
针对DSP处理器功能单元的两种软错误缓解技术
作者:
Rohani Alireza
;
Kerkhoff Hans G.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
32.
Reducing embedded software radiation-induced failures through cache memories
机译:
通过高速缓存减少嵌入式软件辐射引起的故障
作者:
Santini Thiago
;
Rech Paolo
;
Nazar Gabriel
;
Carro Luigi
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
33.
Detection conditions for errors in self-adaptive better-than-worst-case designs
机译:
自适应优于最坏情况设计中的错误检测条件
作者:
Polian Ilia
;
Jiang Jie
;
Singh Adit
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
34.
Systematic generation of diagnostic software-based self-test routines for processor components
机译:
系统生成基于诊断软件的处理器组件自检例程
作者:
Scholzel Mario
;
Koal Tobias
;
Vierhaus Heinrich T.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
diagnostic test;
software-based self-test;
35.
Diagnosis of multiple faults with highly compacted test responses
机译:
通过高度紧凑的测试响应诊断多个故障
作者:
Cook Alejandro
;
Wunderlich Hans-Joachim
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Diagnosis;
Multiple Faults;
Response Compaction;
36.
Improving polynomial datapath debugging with HEDs
机译:
使用HED改进多项式数据路径调试
作者:
Sadeghi-Kohan Somayeh
;
Behnam Payman
;
Alizadeh Bijan
;
Fujita Masahiro
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Debugging;
Error Ranking;
HED;
RTL;
Verification;
37.
Test-mode-only scan attack using the boundary scan chain
机译:
使用边界扫描链的仅测试模式扫描攻击
作者:
Ali Sk Subidh
;
Sinanoglu Ozgur
;
Karri Ramesh
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
38.
A true random number generator with on-line testability
机译:
具有在线测试能力的真正随机数生成器
作者:
Bohl E.
;
Lewis M.
;
Gallein S.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
True random number generator;
correlation;
frequency injection;
on-line test;
rinoscillator;
39.
A new efficiency criterion for security oriented error correcting codes
机译:
面向安全的纠错码的新效率准则
作者:
Neumeier Yaara
;
Keren Osnat
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
40.
Shadow-scan design with low latency overhead and in-situ slack-time monitoring
机译:
影子扫描设计具有低延迟开销和原地松弛时间监控
作者:
Sarrazin Sebastien
;
Evain Samuel
;
Miro-Panades Ivan
;
Valentian Alexandre
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
in-situ slack-time monitoring;
latency overhead;
online monitoring;
scan design;
shadow-scan;
timing violations;
41.
Sat-based speedpath debugging using waveforms
机译:
使用波形的基于Sat的速度路径调试
作者:
Dehbashi Mehdi
;
Fey Gorschwin
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
automated debugging;
speedpaths;
timing variation;
waveforms;
42.
Smart-hopping: Highly efficient ISA-level fault injection on real hardware
机译:
智能跳跃:在真实硬件上的高效ISA级故障注入
作者:
Schirmeier Horst
;
Rademacher Lars
;
Spinczyk Olaf
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
43.
Analysis and mitigation of single event effects on flash-based FPGAS
机译:
分析和缓解基于闪存的FPGA上的单事件影响
作者:
Sterpone Luca
;
Du Boyang
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Flash-based FPGAs;
Place and Route;
Single Event Effects;
Single Event Transients;
Single Event Upsets;
Static Analysis;
44.
Incremental computation of delay fault detection probability for variation-aware test generation
机译:
变异检测测试生成的延迟故障检测概率的增量计算
作者:
Wagner Marcus
;
Wunderlich Hans-Joachim
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
delay test;
delay test quality;
process variations;
45.
Variation-aware deterministic ATPG
机译:
变化感知确定性ATPG
作者:
Sauer Matthias
;
Polian Ilia
;
Imhof Michael E.
;
Mumtaz Abdullah
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
ATPG;
Variation-aware test;
fault efficiency;
46.
Optimization-based multiple target test generation for highly compacted test sets
机译:
基于优化的多目标测试生成,用于高度紧凑的测试集
作者:
Eggersglub Stephan
;
Schmitz Kenneth
;
Krenz-Baath Rene
;
Drechsler Rolf
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
47.
Site dependencies in a multisite testing environment
机译:
多站点测试环境中的站点依赖性
作者:
Lehner Thomas
;
Kuhr Andreas
;
Wahl Michael
;
Bruck Rainer
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Multisite Testing;
Test;
analog testing;
statistics;
48.
M-S specification binning based on digitally coded indirect measurements
机译:
基于数字编码间接测量的M-S规格分档
作者:
Gomez-Pau Alvaro
;
Balado Luz
;
Figueras Joan
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Alternate Test;
Biquad Filter;
Classifiers;
Indirect Measurements;
Mixed-Signal Binning;
Octrees;
Quadtrees;
Quality Binning;
Specification Binning;
49.
Avoiding burnt probe tips: Practical solutions for testing internally regulated power supplies
机译:
避免探头尖端烧焦:用于测试内部稳压电源的实用解决方案
作者:
Swanson Richard
;
Wong Anna
;
Ethirajan Suraj
;
Majumdar Amitava
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Internally regulated power supply;
Power gating;
Probe-tip burnout;
Shorts testing;
50.
Error detection and recovery in better-than-worst-case timing designs
机译:
优于最坏情况的时序设计中的错误检测和恢复
作者:
Singh Adit D.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Better-than-worst-case timing design;
adaptive circuits;
dynamic voltage frequency scaling;
error detection;
51.
Fault injection and fault tolerance methodologies for assessing device robustness and mitigating against ionizing radiation
机译:
故障注入和容错方法,用于评估设备的鲁棒性并减轻电离辐射
作者:
Alexandrescu Dan
;
Sterpone Luca
;
Lopez-Ongil Celia
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Cross Section;
Fault Injection;
Fault Model;
Ionizing Radiation;
Mitigation Techniques;
SETs;
SEUs;
Soft Errors;
52.
On the impact of process variability and aging on the reliability of emerging memories (Embedded tutorial)
机译:
关于过程可变性和老化对新兴内存的可靠性的影响(嵌入式教程)
作者:
Indaco Marco
;
Prinetto Paolo
;
Vatajelu Elena I.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Emerging Memory Technology;
Magnetic RAM;
Phase Change RAM;
Process Variability;
Reliability;
Resistive RAM;
53.
Cell-aware experiences in a high-quality automotive test suite
机译:
高质量汽车测试套件中的单元感知体验
作者:
Hapke F.
;
Arnold R.
;
Beck M.
;
Baby M.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
54.
Quantified contribution of design for manufacturing to yield at 28nm
机译:
制造设计对28nm产量的量化贡献
作者:
Herrmann Thomas
;
Malik Shobhit
;
Madhavan Sriram
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
28nm;
DFM;
Yield;
55.
Post-bond test of Through-Silicon Vias with open defects
机译:
具有开放缺陷的硅通孔的键合后测试
作者:
Rodriguez-Montanes R.
;
Arumi D.
;
Figueras J.
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2014年
关键词:
3-D IC;
TSV testing;
Through-Silicon Via (TSV);
design for testability;
duty cycle;
resistive open defect;
56.
Optimization of analog fault coverage by exploiting defect-specific masking
机译:
通过利用缺陷专用掩蔽来优化模拟故障覆盖率
作者:
Coyette Anthony
;
Gielen Georges
;
Vanhooren Ronny
;
Dobbelaere Wim
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
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2014年
关键词:
Structural testing;
dynamic current monitoring;
power supply current monitoring;
57.
INL systematic reduced-test technique for Pipeline ADCs
机译:
用于管道ADC的INL系统简化测试技术
作者:
Peralias Eduardo
;
Gines Antonio
;
Rueda Adoracion
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
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2014年
关键词:
INL test;
Linearity testing;
Pipeline ADC test;
Reduced test;
Test time reduction;
58.
Built-in self-calibration of CMOS-compatible thermopile sensor with on-chip electrical stimulus
机译:
内置CMOS兼容热电堆传感器的内置自校准功能,带有片上电刺激
作者:
Li Jia
;
Huang Zhuolei
;
Wang Weibing
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
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2014年
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