GIDL; Thin-BOX ETSOI; UTBB; back bias; electric field; fully depleted; partially depleted; substrate bias;
机译:背栅偏置应力对极薄SoI(ETSoI)MOSFET器件特性的影响
机译:用于漏极工程和衬底偏置对MOSFET中GIDL的三端带陷带隧穿模型
机译:衬底偏置极性对AlGaN / GaN-on-Si功率器件中与缓冲有关的电流崩塌的影响
机译:薄盒ETSOI器件的衬底偏置对GIDL的影响
机译:研究毫米波和太赫兹频率下硅衬底的特性及其对无源和有源器件的影响。
机译:了解和评估治疗对糖尿病的影响:糖尿病和器械(TRIM-糖尿病和TRIM-糖尿病器械)与治疗有关的影响措施
机译:衬底偏置对p-MOSFET负偏置温度不稳定性的影响
机译:GaN /衬底热边界电阻对HEmT器件的影响