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机译:衬底偏置极性对AlGaN / GaN-on-Si功率器件中与缓冲有关的电流崩塌的影响
Substrates; Gallium nitride; Silicon; MODFETs; HEMTs; Current measurement; Aluminum gallium nitride;
机译:偏置和器件结构对AlGaN / GaN-on-Si HEMT中栅极结温度的影响
机译:高k钝化层对AlGaN / GaN HEMT中与缓冲有关的击穿和电流崩塌的影响分析
机译:分析场板对GaN MESFET和AlGaN / GaN HEMT中与缓冲器相关的滞后现象和电流崩溃的影响
机译:高性能GaN-on-Si电源开关:衬底偏置在器件特性中的作用
机译:为改善AlGaN / GaN MOS-HFET中的阈值电压稳定性和电流崩塌抑制而研究ALD介电材料的研究。
机译:二维电子气上的供体样表面陷阱以及AlGaN / GaN HEMT的电流崩塌
机译:GaN-on-Si功率HEMT中的电子陷阱:正衬底偏置的影响
机译:偏压应力在alGaN / GaN高电子迁移率晶体管中引起的电流崩塌;杂志文章