【24h】

Chip Package Interaction (CPI) Stress Modeling

机译:芯片包交互(CPI)应力建模

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摘要

In order to address the Chip-Package Interaction (CPI) risks associated with advanced silicon packaging, GLOBALFOUNDRIES has developed Finite Element (FE) models to simulate the mechanical stress in the Backend of Line (BEoL) and Far Back End of Line (FBE
机译:为了解决与先进的硅包装相关的芯片包交互(CPI)风险,GlobalFoundries开发了有限元(FE)模型,以模拟线路(BEOL)后端和远端线的机械应力(FBE

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