EUVL; lithography simulation; mask structure; absorber; sidewall;
机译:使用EUV光发射电子显微镜检查EUVL掩模的空白缺陷和图案化掩模
机译:使用感应耦合等离子体(ICP)的极紫外蚀刻(EUVL)的交替相移掩模(PSM)结构的高度选择性干法蚀刻
机译:NTD工艺在EUVL中亚20nm图案化EUV敏感Si硬掩模的影响和优化
机译:掩盖结构对EUVL孔模式的影响
机译:图案遮罩和视觉感知:使用通用识别理论评估结构和噪声遮罩的效果。
机译:孔罩胶体纳米光刻技术与倾斜角旋转蒸发相结合:一种低成本大面积复杂等离激元纳米结构和超材料的通用制造方法
机译:EUV敏感Si HardMask对NTD工艺EUVL eUVL型图案的影响及优化