Direct Measurement of Compositional Variations in Strained Alloy Quantum Dots

机译：直接测量应变合金量子点的组成变化

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We describe a direct method to obtain a quantitative evaluation of the In variation across nanometer-sized InGaAs quantum dots embedded in a GaAs matrix, by means of electron energy-loss spectroscopy in a scanning transmission electron microscope.

机译：我们描述了一种直接方法，以通过在扫描透射电子显微镜中的电子能损光谱法在GaAs矩阵中嵌入GaAs矩阵中的纳米尺寸的InGaAs量子点的变化进行定量评估。

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来源
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》|2001年||共4页
会议地点
作者
Peter. A. Crozier; Massimo Catalano; R. Cingolani; Institute of Physics; Conference Series Number 168;
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正文语种
中图分类电子光学仪器;
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