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Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference
Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference
召开年:
1991
召开地:
Bristol(GB)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
Analysis of critical voltage effects observed in sphalerite ZnS
机译:
Sphalerite ZNS中观察到的临界电压效应分析
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
2.
In-situ characterisation of nanometre-sized field emitters by observation in STEM
机译:
茎干观察原位表征纳米尺寸的田间发射器
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
3.
Site occupancies in aluminum intermetallics by ALCHEMI
机译:
Alchemi铝合金金属金属间的网站占用
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
4.
The use of LACBED to study matrix displacements from {100} platelets in diamond
机译:
使用LaCBED学习钻石中{100}血小板的矩阵位移
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
5.
A TEM study of dislocation decoration in γ-TiAl
机译:
γ-Tial脱位装饰的TEM研究
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
6.
Electron microscopy studies of transformations in the vanadium phosphate catalyst system
机译:
磷酸盐催化剂体系中转化的电子显微镜研究
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
7.
Tip effects in ECSTM studies of Pd on HOPG
机译:
PD在Hopg上PD的eCstm研究的提示效应
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
8.
Curve fitting approach to EXELFS analysis
机译:
曲线拟合方法以外分析
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
9.
The structure of high energy (>100MeV) heavy ion irradiation damage in high-Tc superconductors
机译:
高功率(> 100mev)高温超导体的重离子照射损伤的结构
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
10.
Soft X-Ray emission spectra of Period 5 transition metals.
机译:
时期5过渡金属的软X射线发射光谱。
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
11.
The formation of a periodic surface profile on Zr_3Al by anodic dissolution
机译:
通过阳极溶解形成ZR_3AL上的周期性表面轮廓
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
12.
The role of plasmon scattering in the quantitative contrast analysis of high-resolution lattice images of GaAs
机译:
等离子体散射在高分辨率晶格图像的定量对比分析中的作用
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
13.
Non compositional dependence of the Ni L2,3 edge in Ni_(62)Al_(38): Phase transformations and stability
机译:
Ni_(62)AL_(38)中Ni L2,3边缘的非组合依赖性:相变和稳定性
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
14.
Investigation of the influence of Al-doping on the microstructures of laser-ablated epitaxial YBa_2Cu_3O_(7-δ) thin films on (001) MgO
机译:
对(001)MgO对激光烧蚀外延YBA_2CU_3O_(7-δ)薄膜微观结构的影响研究
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
15.
In situ formation of metai nanoparticles in buckytube cores
机译:
原位形成BuckyTube核心的METAI纳米粒子
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
16.
STEBIC of Si/Si_(1-x)Ge_x/Si heterostructures
机译:
Si / Si_(1-x)Ge_x / Si异质结构的睾丸
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
17.
Controlled environment high resolution electron microscopy as a means of understanding fullerene generation
机译:
受控环境高分辨率电子显微镜作为了解富勒烯生成的手段
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
18.
Study of AgBr platelets by convergent beam electron diffraction
机译:
收敛光束电子衍射AGBR血小板研究
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
19.
High precision measurement of Debye-Waller factors for NiAl by convergent beam electron diffraction
机译:
通过收敛光束电子衍射对NIAL的DEBYE-WALLER因子的高精度测量
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
20.
Electron beam nanolithography of FeF_3 using a scanning transmission electron microscope
机译:
FEF_3的电子束纳米尺度使用扫描透射电子显微镜
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
21.
Composition fluctuations in strained InGaAlAs layers grown on (001) InP
机译:
在(001)INP上生长的应变ingaalas层中的组成波动
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
22.
Quantitative characterization of standard and anti-reflection YAG scintillator slow-scan CCD-carneras
机译:
标准和抗反射纱线闪烁体慢速扫描CCD-CARNAS的定量表征
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
23.
Scanning Reflection Electron Microscopy study of a cleaved diamond surface
机译:
扫描反射电子显微镜研究割裂金刚石表面
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
24.
Energy loss spectroscopy of iron-copper multilayers
机译:
铁铜多层能量损失光谱
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
25.
Aberration measurement and automated alignment of the TEM
机译:
像差测量和TEM的自动对齐
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
26.
Analytical electron microscopy of YBa_2Cu_3O_(7-x)
机译:
YBA_2CU_3O_(7-X)的分析电子显微镜
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
27.
Measurement and improvement of the effective source coherence in STEM
机译:
茎中有效源相干性的测量和改善
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
28.
Dislocation motion in γ-TiAl in-situ recorded in an HVEM
机译:
在γ-Tial现场脱位运动在HVEM中采用
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
29.
Orientation dependence of EELS spectra from hexagonal boron nitride
机译:
从六边形氮化物中的鳗鱼光谱的取向依赖性
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
30.
Bonding charge density measurements in group Ⅳ elements
机译:
组元素中的粘合电荷密度测量
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
31.
The effects of yttria dispersions on the oxidation behaviours of Ni and Fe-based alloys
机译:
ytTria分散对Ni和Fe基合金氧化行为的影响
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
32.
The Tweed Microstructure in B2 Ni-rich Ni-Al Alloys
机译:
B2富镍Ni-Al合金的Tweed微观结构
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
33.
A crystallographic study of diffusional αFe/Zn interfaces
机译:
扩散αFE/ Zn界面的晶体研究
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
34.
Phase transformation in Bi_2Sr_2CaCu_2O_y single crystals
机译:
Bi_2SR_2CACU_2O_Y单晶中的相换变换
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
35.
HREM assessment of short range order in CdSe quantum dots
机译:
CDSE量子点中的短程顺序的HREM评估
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
36.
The proximity effect for electron beam lithography of aluminium oxide
机译:
氧化铝电子束光刻的邻近效应
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
37.
Deformation behaviour of V-modified Nb_3Al-based alloys
机译:
V型改性Nb_3Al基合金的变形行为
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
38.
Resistive contrast imaging of grain boundaries in BaTiO_3 based thermistor materials
机译:
基于BATIO_3热敏电阻材料的晶界电阻对比度成像
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
39.
Application of multivariate statistical analysis to EDX investigations of interfacial composition using FEG-STEM
机译:
多变量统计分析在Feg-茎中施用界面组合物的EDX调查
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
40.
Dislocation structures in deformed Zr_3Al
机译:
变形ZR_3AL中的位错结构
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
41.
Fourier Reconstruction from Coherent Convergent Beam Electron Diffraction Patterns
机译:
来自相干收敛光束电子衍射图案的傅立叶重建
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
42.
The growth and relaxation of heavily carbon-doped GaAs grown by chemical beam epitaxy
机译:
通过化学束外延生长的重型碳掺杂GaAs的生长和放松
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
43.
Super-resolution STEM imaging in the presence of specimen drift
机译:
超级分辨率茎成像在标本漂移的存在下
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
44.
Dislocation configurations in low lattice-mismatched Si/SiGe/(001)Si heterostructures
机译:
低晶格 - 不匹配的Si / SiGe /(001)Si异质结构的位错配置
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
45.
Dislocation segregation of Si in Cu(Si) studied using energy loss imaging in the TEM
机译:
在TEM中使用能量损失成像研究Cu(Si)的脱位偏析
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
46.
Electron images from thin silicon films
机译:
来自薄硅膜的电子图像
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
47.
A study of defects in Argyle coloured diamonds
机译:
亚皆老年钻石缺陷研究
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
48.
Dislocation Structures in Crept Single Crystal Ni_3Al
机译:
悄悄单晶Ni_3Al中的位错结构
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
49.
Dielectric response theory modelling electron energy loss in semi-infinite media. A non-local approach
机译:
半无限介质中电子能量损失建模的介电响应理论。一个非本地方法
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
50.
Electron microscopy studies of gas atomised and HIPped powders of Ti-48Al-2Mn-2Nb
机译:
用于Ti-48Al-2MN-2NB的气体雾化和折射粉的电子显微镜研究
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
51.
Analytical Electron Microscopy of Gamma Titanium Aluminides
机译:
γ钛铝酸铝的分析电子显微镜
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
52.
Factors Affecting the Accuracy of Structure Factor Measurements in TiAl
机译:
影响Tial结构因子测量精度的因素
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
53.
The precipitation of β' Ni_2TiAl from Al-doped β Ni-Ti alloys
机译:
β'Ni_2的浸出来自乙酸βNi-Ti合金
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
54.
Energy-filtered imaging on a 300kV TEM
机译:
300kV TEM上的能量过滤成像
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
55.
Imaging the orthorhombic distortion in YBaCuO
机译:
在YBACUO中成像正交变形
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
56.
Study of thin cobalt films produced in polymer by ion implantation
机译:
离子注入研究聚合物中薄钴薄膜的研究
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
57.
Microstructural analysis of intermetallic phases in Aluminium-Lithium Alloys
机译:
铝 - 锂合金中金属间相的微观结构分析
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
58.
Deformation substructures developed during creep of γ-TiAl at intermediate temperature
机译:
在中间温度下蠕变蠕变期间开发的变形子结构
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
59.
Plasma interactions with a HOPG surface studied by AFM and XPS
机译:
血浆与AFM和XPS研究的跳跃表面相互作用
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
60.
THE ORDERING TIE LINE ANALYSIS - A NEW APPROACH TO ALCHEMI
机译:
订购系列分析 - Alchemi的新方法
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
61.
Can the ionicity of sapphire be determined using HREM?
机译:
蓝宝石的离子性可以使用HREM确定吗?
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
62.
Ptychographical imaging of sphalerite structures
机译:
斯普利特结构的PTYChographicagical
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
63.
The limitations of pattern recognition and displacement measurement techniques for evaluating HREM images of strained semiconductor interfaces
机译:
用于评估应变半导体接口的HREM图像的模式识别和位移测量技术的局限性
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
64.
Mapping the magnetic induction using Foucault images formed in a conventional transmission electron microscope
机译:
使用在传统透射电子显微镜中形成的Foucault图像映射磁感应
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
65.
Atmosphere-dependent metal thin film and nanoparticle behaviour studied using controlled-environment TEM
机译:
使用受控环境温度研究的大气依赖金属薄膜和纳米粒子行为
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
66.
Investigation of the Orientation Relationship between Massive Gamma Phase and Parent Alpha-2 Phase in a Two-Phase TiAl Alloy
机译:
两相高合金中大型伽马相和母α-2相位方向关系的研究
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
67.
Correlation of EELS Analysis with Electrochemical Properties of Grain Boundaries in Fe-0.4wtP System
机译:
鳗鱼分析与Fe-0.4wt%P系统晶界电化学特性的相关性
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
68.
A new x-ray emission effect from semi-coherent precipitates
机译:
半相干沉淀物的新X射线发射效果
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
69.
Effect of heat treatment on the microstructure of Ti-Al-Nb
机译:
热处理对Ti-Al-Nb微观结构的影响
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
70.
The bonding character of intermetallic alloys using EELS
机译:
使用鳗鱼金属间合金的粘合特性
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
71.
Relation between solute concentration profile and shape of grain boundary obtained via TEM/EDX test
机译:
通过TEM / EDX测试获得溶质浓度曲线与晶界形状的关系
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
72.
Crystallisation of indium chalcogenide films
机译:
铟硫属化物薄膜的结晶
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
73.
Quantification of beam convergence effects in Weak Beam TEM
机译:
弱梁TEM中光束收敛效应的量化
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
74.
Measurement of doping concentrations in silicon by Convergent Beam Electron Diffraction (CBED) pattern matching
机译:
通过收敛光束电子衍射(CBE)图案匹配测量硅中掺杂浓度
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
75.
Changes to microstructure and interlayer stress in annealed electrodeposited Cu-Ni multilayers as assessed using TEM and X-ray diffraction methods
机译:
用TEM和X射线衍射方法评估为退火电沉积Cu-Ni多层的微观结构和层间应力的变化
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
76.
Energy Loss and ADF Imaging of Small Bimetallic Particles in STEM
机译:
茎中小双金属颗粒的能量损失和ADF成像
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
77.
The determination of absorption parameters in Si and GaAs using energy filtered imaging
机译:
使用能量滤波成像测定Si和GaAs中的吸收参数
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
78.
Ab initio EELS with a plane wave basis set
机译:
AB Initio EELS具有平面波基础集
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
79.
Observation of a high-strength cupronickel alloy using electron microscopy
机译:
使用电子显微镜观察高强度Cupronickel合金
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
80.
Microstructure of a high strength alumina-glass composite combined with a diamond like carbon coating
机译:
高强度氧化铝 - 玻璃复合材料的微观结构与金刚石如碳涂层相结合
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
1995年
81.
A comparative study of electron beam damage in crystalline and amorphous aluminium oxide
机译:
结晶和非晶氧化铝电子束损伤的对比研究
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
82.
Electron backscatter diffraction study of melt processed high-Tc superconductor YBa_2Cu_3O_(7-δ)
机译:
熔融处理高TC超导体YBA_2CU_3O_(7-δ)的电子反向散射衍射研究
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
83.
The role of the Pd diffusion barrier in Au/Pd/Ti Ohmic contact structures to p-GaAs for HBT applications.
机译:
Pd扩散屏障在Au / Pd / Ti欧姆接触结构中的作用对HBT应用的P-GaAs。
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
84.
Theoretical modelling of atomic images formed with inelastically scattered electrons
机译:
内部散射电子形成的原子图像理论建模
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
85.
High Resolution STEM Characterizations of Semiconductor Quantum Wires on Patterned Substrates
机译:
图案化基板上的半导体量子线的高分辨率杆表征
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
86.
The effect of second phase particles on annealing in aluminium-manganese-silicon
机译:
第二相颗粒对铝 - 硅硅退火的影响
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
87.
Column approximation effects on partial dislocation weak beam images
机译:
柱近似效应部分位错弱波束图像
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
88.
Interactions between dislocations and planar faults in γ-based TiAl alloys
机译:
基于γ基Tial合金的脱位与平面故障的相互作用
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
89.
Analysis of the distribution of misfit dislocations in InGaAs/GaAs single layers
机译:
IngaAs / GaAs单层错入脱位分布分析
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
90.
Microstructures in Bi-Sr-Ca-Cu-O thin films on LaAlO_3
机译:
Lalal_3上的Bi-SR-CA-Cu-in薄膜中的微轨
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
91.
Recent developments in the interpretation of the flow stress anomaly in L1_2 alloys
机译:
L1_2合金流动胁迫异常解释的最新发展
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
92.
Correlating STM with other techniques of surface crystallography
机译:
将STM与其他表面晶体学技术相关联
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
93.
Abrupt Conduction Band Shifts in Strained Quantum Wells
机译:
突然的传导带在紧张的量子阱中换档
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
94.
PEELS and the transmission electron microscope
机译:
剥离和透射电子显微镜
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
95.
Aberration measurement and compensation for near-1A microscopy
机译:
近1A显微镜的像差测量和补偿
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
96.
Developments in the analysis of defects and interfaces by CBED
机译:
通过CBED分析缺陷和界面的发展
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
97.
The revival of x-ray shadow microscopy and related techniques
机译:
X射线阴影显微镜和相关技术的复苏
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
98.
Towards quantitative high resolution electron microscopy?
机译:
朝向定量高分辨率电子显微镜检查?
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
99.
Photoemission electron microscopy: PEEM and other tools to image surface reactions
机译:
光学曝光电子显微镜:PEEM和其他工具图像表面反应
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
100.
Applications of Analytical Transmission Electron Microscopy to High Performance Materials
机译:
分析透射电子显微镜在高性能材料中的应用
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
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1995年
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