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A small data-line-swing read/write scheme for high-endurance nonvolatile DRAMs with ferroelectric capacitors

机译:用于带铁电电容的高耐久性非易失性DRAM的小数据线路读/写方案

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摘要

A small data-line-swing read/write scheme featuring a doubled data-line-capacitance recall technique was proposed. The proposed scheme enables nonvolatile DRAMs to approach the performance, including endurance and power consumption, of existing volatile DRAMs could be achieved.
机译:提出了一种小的数据线摆动读/写方案,具有一倍的数据线电容召回技术。该方案使得非易失性DRAM能够实现现有的挥发性DRAM的性能,包括耐力和功耗。

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