机译:辐射引起的反向沟道泄漏和反向栅极偏置对薄栅氧化物部分耗尽绝缘硅上n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管的漏电流瞬态的影响
机译:超薄栅氧化物中的辐射感应泄漏电流和应力感应泄漏电流
机译:通过与双极自组装单层的界面工程通过界面工程减少非晶氧化物半导体顶齿薄膜晶体管的漏电流
机译:由于等离子体诱导薄栅极氧化物MOS晶体管造成的漏电流
机译:等离子体工艺引起的薄栅极氧化物上的充电损伤
机译:A-Ingazno薄膜晶体管中光漏电流和负偏压照明应力的退火诱导稳定性的定量分析
机译:热载流子应力,氧化物击穿和栅极泄漏电流之间的相关性,用于监测等离子体处理对栅极氧化物造成的损坏