机译:GaAs MESFET中的中子/γ诱导的损伤机理和协同效应
机译:GaAs MESFET中子损伤的研究
机译:GaAs MESFET中中子诱发的缺陷团簇的结构
机译:中子诱导的GaAs Mesfets损坏
机译:用于低噪声应用的铜/钛金属化GaAs MESFET和HEMT的制造,测试和可靠性建模。
机译:AlAsGaAs和GaAs / AlAs超晶格的低能辐射响应及其对电子结构的损伤作用的比较研究
机译:AlGaAs / GaAs高电子迁移率晶体管和GaAs MESFET中热载流子引起的辐射发射
机译:等离子体诱导损伤对离子注入Gaas mEsFET在反应离子刻蚀(RIE)和等离子体灰化过程中通道层的影响。