机译:通过脉冲形状识别识别硅探测器中的轻电荷粒子和重离子
机译:检测器参数对带电粒子和中间质量碎片通过脉冲形状分析识别的影响
机译:硅探测器正面和背面注入之间使用脉冲形状判别和△E-E方法识别带电粒子的比较
机译:通过脉冲形状辨别识别硅探测器中的光电粒子和重离子
机译:使用硅条检测器测量由高能重离子产生的次级带电粒子破碎截面。
机译:使用ATLAS检测器在...公式... TeV的pp碰撞中搜索重的长寿命多电荷粒子
机译:痕迹:一种高度细分的硅探测器,用于检测聚变蒸发和直接核反应中发射的带电粒子