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机译:检测器参数对带电粒子和中间质量碎片通过脉冲形状分析识别的影响
Politecnico di Milano, Dip. Elettronica e Informazione, Piazza L da Vinci 32, 20133 Mitono, Italy,INFN, Sezione di Milano. Via Celoria 16, 20133 Milano, Italy;
Politecnico di Milano, Dip. Elettronica e Informazione, Piazza L da Vinci 32, 20133 Mitono, Italy,INFN, Sezione di Milano. Via Celoria 16, 20133 Milano, Italy;
particle identification; charge and mass identification; silicon detectors; pulse-shape analysis;
机译:用于4π多探测器系统的闪烁探测器望远镜的测试,该系统用于检测重离子反应产生的轻电荷粒子和中间质量碎片
机译:通过脉冲形状识别识别硅探测器中的轻电荷粒子和重离子
机译:质子诱导反应中弹丸能量和目标质量对轻电荷粒子和中间质量碎片产生的依赖性和影响
机译:通过脉冲形状鉴别识别硅检测器中的轻电荷颗粒和重离子
机译:使用位于LEP的OPAL探测器在质量能中心130至209 GeV的电子-正电子碰撞中寻找稳定且长寿命的重电荷粒子。
机译:高效液相色谱/二极管阵列检测器/四极杆飞行时间质谱和超高效液相色谱/三重四极杆质谱法对棉果中主要三萜的定性和定量分析
机译:用数字脉冲形状分析探索不同事件参数的优点,以便在CHIMERA CsI(Tl)检测器中识别带电粒子