机译:深亚微米LDD MOSFET上高介电LDD隔离层的性能和可靠性评估
机译:低温多晶硅GOLD(栅极重叠LDD)结构TFT的可靠性
机译:梯度结栅极/ n / sup-/重叠的LDD MOSFET结构可实现高热载流子可靠性
机译:具有非掺杂多Si间隔LDD结构的高驾驶能力和高可靠性MOSFET(SLDD)
机译:将超薄(1.6-2.0 nm)RPECVD堆叠的氧化物/氮氧化物栅极电介质集成到双多晶硅栅极亚微米CMOSFET中。
机译:凸源/漏极(RSD)和垂直掺杂漏极(LDD)多Si薄膜晶体管
机译:基于物理的LDD-MOSFET重叠区电阻模型
机译:siO2上区域熔化 - 再结晶多晶硅薄膜制备的绝缘硅绝缘体。