Microwave Electronics Laboratory, Department of Microtechnology and Nanoscience, Chalmers University of Technology, SE-412 96 Goeteborg, Sweden;
MOS; (11-20) face; thermally stimulated current; interface states;
机译:以低温亚阈值斜率为特征的SiO_2 / p型4H-SiC(0001),(1120),(1100)金属氧化物半导体结构的界面态密度
机译:通过掺磷去除SiO_2 / 4H-SiC(0001)界面处的近界面陷阱
机译:在(0001),(0001)和(1120)上进行4h-sic / sio_2界面电子状态的第一原理理论研究
机译:P掺杂SiO_2 / 4H-SiC(0001)界面处的浅陷阱
机译:通过热壁化学气相沉积法生长的同质外延4H-碳化硅(1120)薄膜的界面上的多型稳定性,微观结构演变和杂质
机译:在离轴4H-SiC上生长的外延石墨烯的纳米级结构表征(0001)
机译:N2O生长的氧化物/ 4H-SiC(0001),(0338)和(1120)的界面特性,其特征在于使用p型栅极控制二极管