Dipartimento di Ingegneria Elettronica e delle Telecomunicazioni Universita di Napoli "Federico II", Napoli Italy;
机译:通过深度依赖性载体寿命测量去耦堆积和表面重组性能
机译:通过过量热发射动力学来测量硅晶片中的表面复合速度和体寿命
机译:利用光激发MOS电容器技术测量硅外延层中载流子复合寿命
机译:高注射制度中散装重组寿命的光学测量
机译:硅光生伏打材料中非接触光谱的体寿命和表面复合速度的光谱测量。
机译:时间分辨光致发光测量中具有不同表面处理的薄膜半导体的体相和表面复合特性
机译:通过过度热排放的动力学测量Si晶片中的表面重组速度和散装寿命
机译:检测器级硅和锗晶体中表面复合速度和体积寿命的测定。