Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS) -Instituto de Informatica CP15064, CEP91501-970, Porto Alegre, Brazil;
self-repair; embedded memories; fault-tolerance; EDAC code;
机译:具有BIST提高可靠性的嵌入式存储器的内置自修复技术
机译:增强的内置自修复技术,可提高嵌入式存储器的制造良率和可靠性
机译:共享的内置自我修复分析功能,用于多个嵌入式存储器
机译:TOC-BISR:嵌入式系统中记忆的自修复方案
机译:利用软件管理内存的嵌入式系统静态和动态内存管理方案分析
机译:具有学习性能的学习型动态电压和频率缩放方案适用于单核和多核嵌入式和移动系统
机译:TOC-BISR:嵌入式系统中记忆的自修复方案