TOC-BISR: A SELF-REPAIR SCHEME FOR MEMORIES IN EMBEDDED SYSTEMS

机译：TOC-BISR：嵌入式系统中记忆的自修复方案

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Gustavo Neuberger; Fernanda Lima Kastensmidt; Ricardo Reis;
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1. Built-In Self-Repair Techniques of Embedded Memories with BIST for Improving Reliability [J] . P. S. N. Bhaskar, B. Sarada, Kandregula Shailaja IOSR journal of computer engineering . 2019,第1期

机译：具有BIST提高可靠性的嵌入式存储器的内置自修复技术
2. Enhanced Built-In Self-Repair Techniques for Improving Fabrication Yield and Reliability of Embedded Memories [J] . Shyue-Kung Lu, Cheng-Ju Tsai, Masaki Hashizume IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems . 2016,第8期

机译：增强的内置自修复技术，可提高嵌入式存储器的制造良率和可靠性
3. A shared built-in self-repair analysis for multiple embedded memories [J] . Masanao Maruta, Jun Ohtani, Tomoya Kawagoe, 電子情報通信学会技術研究報告. 電子部品·材料. Component Parts and Materials . 2001,第517期

机译：共享的内置自我修复分析功能，用于多个嵌入式存储器
4. TOC-BISR: A SELF-REPAIR SCHEME FOR MEMORIES IN EMBEDDED SYSTEMS [C] . Gustavo Neuberger, Fernanda Lima Kastensmidt, Ricardo Reis IFIP 184; IFIP(International Federation for Information Processing) TC10 Working Conference: International Embedded Systems Symposium(IESS); 20050815-17; Manaus(BR) . 2005

机译：TOC-BISR：嵌入式系统中的内存自修复方案
5. Analysis of static and dynamic memory management schemes in embedded systems utilizing software-managed memory [D] . Akcaman, Muberra N. 2015

机译：利用软件管理内存的嵌入式系统静态和动态内存管理方案分析
6. Learning-Directed Dynamic Voltage and Frequency Scaling Scheme with Adjustable Performance for Single-Core and Multi-Core Embedded and Mobile Systems [O] . Yen-Lin Chen, Ming-Feng Chang, Chao-Wei Yu, 2018

机译：具有学习性能的学习型动态电压和频率缩放方案适用于单核和多核嵌入式和移动系统
7. PCM-FTL : a write-activity-aware NAND flash memory management scheme for PCM-Based embedded systems [O] . Liu DUO, Wang T, Wang YI, 2011

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