SOG Research Laboratories, NEC Corporation 1120, Simokuzawa, Sagamihara, Kanagawa, 229-1198, Japan;
机译:多晶硅TFT,MOSFET和SOI器件中热载流子引起的退化的形成和退火,以及与/ spl alpha / Si:H中状态创建的相似性
机译:使用超薄栅极电介质的高性能多晶硅TFT用于单片三维集成电路和玻璃应用系统
机译:使用脉冲激光退火和远程等离子体CVD以及低温处理技术制造的高性能多晶硅TFT
机译:使用GIN / ID方法的SOI,Poly-Si TFT和散装SI MOS性能的比较
机译:体和SOI FinFET中的辐射引起的单事件瞬变(SET)效应以及与体CMOS的鲁棒性比较。
机译:房间温度Terhertz天线耦合钻孔SOI基温度传感器的性能比较:MOSFETPN结二极管和电阻器
机译:图1:疏散物和散装土壤细菌群落之间的OTU丰富(A)和α-多样性(Shannon指数)(B)的多重比较,土壤型植物种类。
机译:使用体内和体外分析方法和暴露/剂量模型的改进来比较元素废物负载土壤的生物利用度。 1998年度进展报告