STMicroelectronics, 12 rue Jules Horowitz, BP 217, 38019 Grenoble Cedex, FRANCE;
STMicroelectronics, 850 rue Jean Monnet, 38926 Crolles Cedex, FRANCE IMEP, 3 rue Parvis Louis Neel, BP 257, 38016 Grenoble Cedex 1, FRANCE;
STMicroelectronics, 850 rue Jean Monnet, 38926 Crolles Cedex, FRANCE;
STMicroelectronics, 850 rue Jean Monnet, 38926 Crolles Cedex, FRANCE;
IMEP, 3 rue Parvis Louis Neel, BP 257, 38016 Grenoble Cedex 1, FRANCE;
CMOS image sensor; crosstalk; electro-optical characterization;
机译:超薄背照式CMOS有源像素传感器的EUV和软X射线量子效率测量
机译:首次使用光子计数读数的500微米硅混合像素传感器进行X射线医学成像的探测量子效率测量
机译:低背景Alpha测量中取决于能量的效率及其对精确Alpha表征的影响
机译:从CMOS图像传感器像素开发的量子效率光谱中分离出照片收集效率和颜色串扰
机译:量子效率和少数载体寿命测量的微波仪表和传感技术
机译:电路QED中用于量子比特测量的精确量子贝叶斯规则
机译:使用内部量子效率测量表征si纳米结构