ACCENT PRO 2000 s.r.l. (Romania);
Univ. of Bucharest (Romania);
机译:使用高精度测量银的11 keV-28 keV的x射线质量衰减系数从XAFS确定结构,并开发了一种全能方法来对键长进行局部动力学分析,揭示了整个XAFS的有效热贡献的变化光谱
机译:用于直接X射线光谱测量的FLUXEN便携式设备
机译:使用原位同步回旋X射线探针了解电子和原子水平上电池材料的相互作用,相关性和脆性
机译:便携式和自主X射线设备,用于原位威胁材料识别有效原子数高精度测量
机译:征服材料:使用便携式X射线荧光光谱法对两个16世纪西班牙探险进行冶金分析的研究。
机译:一种统计方法可校正微带探测器中X射线响应的不均匀性以进行高精度和高分辨率的总散射测量
机译:复杂氧化物材料的脉冲激光沉积过程中的原位X射线测量