United Microelectronics Corporation, No. 18, Nan-Ke Rd. II, Science-Based Industrial Park, Shan-hua, Tainan County 741, Taiwan, ROC;
process window; mask error enhancement factor (MEEF); lithography manufacturability; model accuracy; lithography simulation; process window modeling;
机译:全芯片计算光刻中的两层临界尺寸和覆盖工艺窗口特性以及改进
机译:定制照明,可在掩模对准仪光刻系统中优化工艺窗口并提高良率
机译:亚微米光刻缺陷模拟在提高IC良率中的应用
机译:全芯片光刻制造性检查产量改善
机译:在持续的流程改进文化中,平衡计分卡可产生更好的结果。
机译:溶剂在锂峰的光刻陶瓷制造中的作用
机译:矩形接触光刻技术可提高电路性能并降低制造成本