Dept. of Comput. Sci., Nat. Tsing Hua Univ., Hsinchu;
automatic test pattern generation; integrated circuit testing; logic testing; IR drop reduction; at-speed scan test; backward propagation; physical location aware X filling method; spatial information;
机译:一种在高速扫描测试中减少红外下降的物理位置感知X填充方法
机译:使用CTX的高速扫描测试中的高启动开关活动减少:基于时钟门的测试松弛和X填充方案
机译:使用CTX的高速扫描测试中的高发射切换活动减少:基于时钟门的测试松弛和X填充方案
机译:用于在速度扫描测试中的IR下降减少的物理位置感知X填充方法
机译:测试点,部分扫描和全扫描触发器插入的信息理论和频谱方法,以提高集成电路的可测试性
机译:基于深度学习的自动3D降噪方法光学相干性筛网筛板前部的分割体层摄影术
机译:iFill:一种基于冲击的X填充方法,用于在基于速度扫描的测试中减少移位和捕获功率