机译:一种在高速扫描测试中减少红外下降的物理位置感知X填充方法
Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd., Hsinchu, Taiwan;
At-speed scan test; IR-drop; X-filling; automatic test pattern generation; physical location aware;
机译:使用CTX的高速扫描测试中的高启动开关活动减少:基于时钟门的测试松弛和X填充方案
机译:使用CTX的高速扫描测试中的高发射切换活动减少:基于时钟门的测试松弛和X填充方案
机译:X-Filling可在基于扫描的高速测试中同时降低移位和捕获功率
机译:一种物理位置感知的X填充方法,用于在全速扫描测试中减少IR下降
机译:测试点,部分扫描和全扫描触发器插入的信息理论和频谱方法,以提高集成电路的可测试性
机译:基于深度学习的自动3D降噪方法光学相干性筛网筛板前部的分割体层摄影术
机译:iFill:一种基于冲击的X填充方法,用于在基于速度扫描的测试中减少移位和捕获功率