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马琪; 焦鹏; 周宇亮;
杭州电子科技大学微电子CAD研究所;
杭州士兰微电子股份有限公司设计所;
可测性设计; 延迟故障; 全速测试; 扫描测试;
机译:基于FPGA架构的蜂窝自动机拓扑中基于双向扫描的故障定位方法的VLSI架构的设计和自动化
机译:逻辑VLSI系统中基于触发器的SET和SEU软错误率的基于扫描架构的评估技术
机译:捕获功率安全的测试模式确定,用于基于扫描的全速测试
机译:使用多定时时钟波形的有效的全速扫描测试方法
机译:基于幻影的测试方法和计算建模对光学相干断层扫描成像性能的定量评估。
机译:一种基于峰搜索特征提取的低成本VLSI峰值分类
机译:使用扫描电子显微镜的VLsI电路的测试方法。
机译:基于高分辨率压力的全速流体流动算法
机译:将半速率/全速率单色扫描仪转换为半速率/全速率彩色扫描仪的方法和系统
机译:基于扫描的ATPG测试电路,扫描链更换方法及测试方法
机译:基于扫描的自动测试图案生成(ATPG)测试电路,使用该测试电路的测试方法以及扫描链重新排序方法
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