一种基于ATE的GPU核心全速功能测试方法

摘要

本发明公开了一种基于ATE的GPU核心全速功能测试方法，涉及GPU芯片研发与测试领域。首先，ATE通过模式选择接口将GPU芯片置于GPU核心全速功能测试模式，然后，ATE通过控制接口对GPU芯片内部的时钟电路进行配置，再接着，ATE通过数据接口及专用数据通路，将测试数据装载至GPU芯片的内部测试存储器，进一步，ATE通过控制接口启动GPU核心，使其读取测试数据进行计算并将结果写回至GPU芯片的内部测试存储器，最后，ATE通过控制接口查询GPU核心的工作状态，在其工作状态为空闲时，从GPU芯片的内部测试存储器中将测试结果读出并与标准结果进行比对。本发明具有快速灵活、成本低，可广泛应用于GPU芯片的研发与测试领域。