NiTech angartoni.kevinroquero@nitech.ac.jp;
JASRI;
NAIST;
Hiroshima City Univ.;
NiTech;
Tohoku Univ.;
Jichi Medical Univ.;
Univ. of Tokyo;
NAIST Toshiba Nanoanalysis Co.;
机译:X射线荧光全息术无机材料中的价选择性局部原子结构
机译:钇氧化钇薄膜的价选择性X射线荧光全息性研究
机译:X射线荧光全息照相法对埋在硅晶体中的Ge团簇的原子排列进行高灵敏度成像。
机译:磁铁矿的价敏感X射线荧光全息术
机译:铁锅和吊的声学研究:相敏全息和声强测量。
机译:X射线波导荧光全息术重建超薄膜中不断发展的纳米结构
机译:X射线荧光全息术能够取悦选择性结构分析:应用于Ybincu 4 sub>价转换材料
机译:用X射线荧光法测定价态标准的制备