integrated circuit measurement; integrated circuit testing; integrated circuit yield; average yield; failing chip clustering; failing chip reconstruction; from clustering measurements; manufacturing process; theper wafer distribution; NFC; Number of Failing Chips;
机译:失败筹码分布数量的统计分析
机译:Reconstructions of velocity distributions from fast-ion D-alpha (FIDA) measurements on EAST
机译:通过硅团簇在HOPG表面上的沉积和原子力显微镜测量液体中的团簇相互作用:作为溶液中团簇相互作用的指纹,堆叠层的高度分布
机译:从聚类测量结果重建每片晶圆失效芯片
机译:探针模块,用于通过电气和光学I / O互连对千兆级芯片进行晶圆级测试。
机译:从光声和超声层析成像测量结果联合重建声音分布的初始压力和速度
机译:全晶圆再分配和晶圆嵌入作为关键技术 多尺度神经形态硬件集群