Intel Corporation, SC1-03, 2200 Mission College Blvd., Santa Clara, CA, USA 95054;
mask blank inspection; extreme ultraviolet lithography; confocal imaging; surface roughness;
机译:宽带紫外线照射下光化检查表征极端紫外线光刻掩模缺陷
机译:通过光发射电子显微镜在波长范围内检查极紫外光刻掩模坯料中的40 nm以下缺陷
机译:光电子显微镜观察光化性极紫外光刻掩模空白缺陷
机译:掩盖基板和坯料检查中缺陷检测灵敏度的表征,用于极端紫外线光刻
机译:用于自然缺陷分析的极紫外光刻掩模版的局部掩模图案
机译:迈向极紫外光刻的高精度反射计
机译:极端紫外线光刻掩模坯料中相缺陷的修复