United Microelectronics Co., No. 3, Li-Hsin 2nd Road, Hsinchu Science Park, 300, Taiwan, R.O.C.;
机译:铜柱凸块倒装芯片直接Cu-Cu键合方法的比较研究
机译:解决铜柱凸点倒装芯片BGA封装的超低K分层问题的RDL UBM结构设计
机译:使用铜柱凸点的倒装芯片尺寸封装的低k层应力的参数研究
机译:倒装芯片CSP封装的芯片封装交互开发,其引线上具有Cu柱凸点,用于高级节点芯片
机译:具有增强的*可靠性和有限元分析的双凸点倒装芯片工艺开发
机译:倒装芯片封装系统的碳纳米管凸点
机译:使用焊接Cu柱凸块的Au电镀焊盘上的外围倒装芯片互连