Graduate School of Engineering, Osaka University, 2-1 Yamada-oka, Suita, Osaka 565-0871, Japan;
Current measurement; Educational institutions; Electric potential; Leakage currents; Logic gates; Photonic band gap; Thin film transistors;
机译:InGaZnO薄膜晶体管中漏电流的仿真与建模
机译:多晶硅薄膜晶体管中漏电流对沟道膜质量的依赖性以及使用器件仿真的分析
机译:与氢化非晶硅薄膜晶体管相比,非晶$ hbox {InGaZnO} _ {4} $薄膜晶体管的双栅特性
机译:Imazno薄膜晶体管漏电流的机制
机译:场效应晶体管中的电流饱和机制。
机译:氧含量对底栅非晶InGaZnO薄膜晶体管电流应力诱导的不稳定性的影响
机译:在具有各种有源层厚度的无定形Ingazno薄膜晶体管中探索光吞蓄电流和光突出的负偏置不稳定性