Department of Physics, Aristotle University of Thessaloniki, 54124 Thessaloniki, Greecec;
机译:高于阈值状态的非晶IGZO薄膜晶体管的分析漏电流模型
机译:同时考虑深陷状态和尾陷状态的非晶InGaZnO薄膜晶体管在不同温度下的分析漏电流模型
机译:非晶IGZO薄膜晶体管的新漏极电流模型
机译:考虑尾态高斯分布的Amorphous IGZO薄膜晶体管的分析统一漏极电流模型
机译:非晶硅薄膜晶体管的器件和材料表征以及分析建模。
机译:有源层厚度不同的非晶InGaZnO薄膜晶体管中漏极电流应力引起的不稳定性
机译:具有不对称石墨烯电极的非晶In-Ga-Zn-O薄膜晶体管中的栅极电压和漏极电流应力不稳定性