Dept. of Electron. Comput. Eng., Hong Kong Univ. of Sci. Technol., Hong Kong, China;
Memory integration density; VDD-min; battery lifetime; datastability; energy efficiency; leakage power consumption; noise immunity; supply voltage scaling;
机译:强大的超低功耗,数据相关的电源供电的11T SRAM单元,具有扩展的读/写稳定性,用于互联网应用程序
机译:具有写辅助电路的超低压MOSFET,TFET和混合TFET-MOSFET SRAM单元的稳定性,性能评估
机译:具有扩展的写入/读取稳定性的差分数据感知功率上电(D $ ^ {2} $ AP)8T SRAM单元,适用于更低的VDDmin应用
机译:用于数据稳定性和超低电源电压的数据稳定性和能效的三阈值电压9晶体管SRAM单元
机译:面向未来超低功耗微电子的新型8-T CNFET SRAM单元设计。
机译:具有稳定性和电源抑制升压功能的瞬态增强型稳压器
机译:用于超低功耗应用的低压高速8T SRAM单元