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Novel 8-T CNFET SRAM cell design for future ultra-low power microelectronics.

机译:面向未来超低功耗微电子的新型8-T CNFET SRAM单元设计。

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摘要

In deep sub-micron technology, leakage power consumption has become a major concern in VLSI circuits, especially for SRAM, which is used to build the cache in System-on-Chip (SOC). In this paper, a low power 8-T SRAM cell, based on carbon nanotube field effect transistor (CNFET), is proposed to circumvent the leakage power issue. Experiment datas show that the proposed SRAM cell can save 97.94% static power consumption compared to existing 6T CNFET SRAM cell. In case of writing, the proposed SRAM cell consumes 39.27% less power than the traditional SRAM cell for writing 0 and 58.79% less for writing 1. Also, because of the adoption of a colaborated voltage sense amplifier and independent read component, our 8T SRAM shows much improved delay performance, the delay is observed to reduce by approximate 30% in write operation and approximate 90% in read operation.
机译:在深亚微米技术中,泄漏功耗已成为VLSI电路中的主要关注点,尤其是对于SRAM,它用于在片上系统(SOC)中建立缓存。本文提出了一种基于碳纳米管场效应晶体管(CNFET)的低功耗8-T SRAM单元,以规避泄漏功率问题。实验数据表明,与现有的6T CNFET SRAM单元相比,所建议的SRAM单元可以节省97.94%的静态功耗。在写入的情况下,建议的SRAM单元比传统的SRAM单元在写入0时功耗要低39.27%,而在写入1时则要降低58.79%。此外,由于采用了协作式电压检测放大器和独立的读取组件,因此我们的8T SRAM由于延迟性能大大提高,在写操作中观察到的延迟减少了约30%,在读操作中观察到的延迟减少了约90%。

著录项

  • 作者

    Kim, YoungBae.;

  • 作者单位

    Illinois Institute of Technology.;

  • 授予单位 Illinois Institute of Technology.;
  • 学科 Electrical engineering.
  • 学位 M.S.
  • 年度 2016
  • 页码 36 p.
  • 总页数 36
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

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