Reliability of 10Gb/s 850nm oxide confined vertical cavity surface emitting lasers

机译：10Gb / s 850nm氧化物受限垂直腔表面发射激光器的可靠性

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High temperature operating life test was used to evaluate the reliability of 10Gb/s 850nm Oxide Confined Vertical Cavity Surface Emitting Lasers(VCSELs) provided by Oclaro Inc. Two kinds of failure phenomenons encountered during the experiment were studied and the possible failure mechanisms were given.

机译：Oclaro Inc.提供的高温工作寿命测试用于评估10Gb / s 850nm氧化物受限垂直腔表面发射激光器（VCSEL）的可靠性。研究了实验过程中遇到的两种故障现象，并给出了可能的故障机理。

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来源
《2013 20th IEEE International Symposium on the Physical amp; Failure Analysis of Integrated Circuits》|2013年|758-761|共4页
会议地点 Suzhou(CN)
作者
Meng Haijie; Zhang Zhenfeng; Wang Shancheng; Ding Guoqing;
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作者单位

Wuhan Huagong Genuine Optics Technology Co., Ltd., Huazhong University of Science Technology Region, Donghu High-Tech Zone, hubei, Chinac;

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