Universite de Toulouse et LAAS-CNRS, 7 av. du Colonel Roche, 31.077, cedex 4, France;
GaN HEMT devices; I-DLTS and Lag measurements; Low Frequency Noise; Reliability;
机译:噪声作为诊断电子设备质量和可靠性的工具
机译:利用低频噪声测量研究微机械加工的AlGaN / GaN / Si高电子迁移率晶体管的器件可靠性
机译:关于“在独立式GaN衬底上提高GaN器件的可靠性”的勘误表[8月18日3379-3387]
机译:GAN设备准确可靠性调查的诊断工具
机译:基于粒子的功率放大器应用毫米波GaN器件可靠性建模
机译:新型门诊前庭连续评估(CAVA)装置的诊断准确性可靠性可接受性和安全性研究
机译:用于GaN器件精确可靠性研究的诊断工具