Tulane University Department of Mechanical Engineering Lindy Boggs Bld. Suite 400 New Orleans, Louisiana, 70118-5698 USA;
机译:BGA封装中高周振动疲劳的实验研究和寿命预测
机译:适用于智能移动应用的大型超薄玻璃BGA封装的板级热循环和跌落测试可靠性
机译:系统设计对随机频率振动下BGA包装焊缝疲劳寿命的影响
机译:BGA包装的高循环振动测试
机译:使用BGA封装的焊点可靠性评估:Megtron 6与FR4印刷电路板的跌落测试
机译:振动丙虫精神刺激对最大增量循环试验后回收相的影响
机译:半导体封装和包装技术的最新趋势。目前MCM,BGA和CSP包装的国家和前景。