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BGA PACKAGE SUBSTRATE AND TEST IT USING BGA PACKAGE TESTING METHODS

机译:使用BGA封装测试方法对BGA封装基质进行测试

摘要

PURPOSE: A substrate for a BGA(Ball Grid Array) package test and a BGA package testing method using the same are provided to smoothly test a degradation rate of a BGA package. CONSTITUTION: A substrate(100) is installed between a connection socket(20) and a BGA package(30) to test the BGA package. The substrate is used for testing the defective rate of the BGA package through a surface contact between a connection terminal(22) of the connection socket and a ball type connection terminal(32) of the BGA package.
机译:目的:提供用于BGA(球栅阵列)封装测试的基板和使用该基板的BGA封装测试方法,以平稳地测试BGA封装的降解率。组成:将基板(100)安装在连接插座(20)和BGA封装(30)之间,以测试BGA封装。该基板用于通过连接插座的连接端子(22)与BGA封装的球形连接端子(32)之间的表面接触来测试BGA封装的不良率。

著录项

  • 公开/公告号KR20100117376A

    专利类型

  • 公开/公告日2010-11-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SOLID MECA CO. LTD.;

    申请/专利号KR20090036096

  • 发明设计人 KIM TAE WAN;

    申请日2009-04-24

  • 分类号G01R31/26;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 18:31:38

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