机译:BGA封装中高周振动疲劳的实验研究和寿命预测
Department of Mechanical Engineering, Tulane University, New Orleans, LA 70118-5674, USA;
机译:随机振动载荷下无铅BGA的高周疲劳寿命预测
机译:测定BGA封装焊球热循环疲劳寿命的简便实验技术。
机译:系统设计对随机频率振动下BGA包装焊缝疲劳寿命的影响
机译:随机振动下BGA焊点失效模拟与疲劳寿命预测研究
机译:快速评估振动载荷下的BGA疲劳寿命。
机译:考虑载荷顺序影响的BGA热疲劳寿命预测模型
机译:电子包装中BGA焊料凸块疲劳可靠性的实验技术。
机译:简易高温低周疲劳试验机蠕变 - 疲劳寿命预测研究