GaN HEMI微波内匹配大功率器件,因其具有体积小、重量轻、输出功率大、工作温度高等方面的优势,将在各类通信、雷达、导航等设备中得到了广泛的应用,特别是在航空、航天、相控阵雷达等特殊领域要求整机小型化方面,具有较大的应用前景。然而,在内匹配测试过程中涉及到的步骤繁琐,牵连到的设备众多且需要实时记录各类数据,致使其测试严重的滞后整个流程。因此,该文章描述了一种自行研制的自动化的,针对于GaN HEMT内匹配的微波测试系统。rn 内匹配技术是指将有源器件和阻抗匹配电路一同封装在管壳内部，使之成为输入阻抗和输出阻抗达到一定要求的器件阻抗匹配技术。然而，由于系统中涉及到太多的微波设备，仪器的手动设置以及数据的存储问题严重滞后了测试进度，加重了测试任务。自动化测试系统很好的解决了测试过程出现的问题，实现了测试自动化。操作简便，测试结果快捷存储是本系统的特色。由于测试系统很好的协调测试过程中多台仪器间时序问题，免除了测试过程中的仪器互连和繁琐的设置问题，使用户把更多的专注力集中在测试上。测试软件贴近实际操作，人性化的界面，可拓展的功能使之具有很大的实用潜力。
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