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曾俞衡; 杨德仁; 马向阳; 阙端麟;
中国电子学会;
重掺磷直拉硅片; 缺陷检测; 腐蚀机理; 光学显微镜;
机译:重掺Ge的直拉生长的p型硅晶体的内生缺陷和光伏特性
机译:掺镍大直径直拉生长硅的缺陷形成及其对栅极氧化物可靠性的影响
机译:掺锗抑制p型直拉硅中的硼氧缺陷
机译:重磷掺杂的直拉硅中的氧析出
机译:通过光学和热结电容技术研究掺磷的氢化非晶硅中的缺陷反应和晶格弛豫
机译:磷腐蚀物:从性质调整到光催化和三重态-三重态an灭上转换的应用
机译:掺硼的直拉硅中的光诱导寿命降解:是否涉及氧二聚体?
机译:从313K到673K的重掺磷硅的导热系数,塞贝克系数和电阻率
机译:用直拉法从长成的块体切成的重掺杂硅片中的氧沉淀
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