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载流子浓度和迁移率对材料红外发射率的影响

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利用IR-1红外发射率测量仪测量经不同温度热处理ZnO样品在8-14μm红外窗口波段的平均发射率,X射线衍射(XRD)结果表明各样品并无结构变化,通过HL5500霍尔参数测量对样品进行Hall测试,发现发射率、载流子浓度和迁移率三者之间存在着一定的联系.文中结合Hall测试结果探讨了这三者之间的相互关系,并给出一定的物理解释.

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来源
《2002年中国材料研讨会》|2002年|1884-1887|共4页
会议地点北京
作者
卢晓蓉; 徐国跃; 赵毅; 汤浩; 樊瑞新; 杨德仁;
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作者单位

中国材料研究学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类材料 ;
关键词
红外发射率; Hall测试; 载流子浓度; 迁移率; ZnO; 半导体材料;

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