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基于UVM验证方法学的MCU验证

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本文介绍了使用UVM验证方法学对MCU进行验证的全过程,从制定验证计划到验证平台的实现,并阐述了实现过程中的技术要点,覆盖率统计以及最后的回归收敛.验证结果表明,MCU各种配置下功能正确,基于UVM验证方法学可以快速搭建灵活的高度可重用的验证平台,提高了验证效率,较好地满足了芯片验证需求.

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来源
《第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛》|2013年|286-290|共5页
会议地点西宁
作者
孟宾; 欧国东; 李英淇; 鲍俊明;
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作者单位

中国计算机学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;
关键词
SOC芯片; 存储控制单元; UVM方法学; 功能覆盖率;

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