退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
Shi Zhendong; 石振东; Chen Bo; 陈波; Ren Huan; 任寰; Zhang Lin; 张霖; Yang Yi; 杨一; Yuan Quan; 原泉; Ma Hua; 马骅;
中国照明学会;
中国计量测试学会;
北京照明学会;
扫描白光干涉仪; 多层薄膜; 三维形貌测量; 反射相位; 界面面形; 薄膜厚度;
机译:基于纳米测量机的白光倾斜扫描干涉仪,用于大规模光学阵列结构测量
机译:使用扫描白光干涉仪测量薄膜厚度
机译:使用白光的波数扫描干涉仪测量薄膜形状
机译:基于扫描白光干涉仪的多层薄膜三维测量
机译:使用白光干涉仪测量的折射率的光谱依赖性
机译:用于光学相干断层扫描中轴向对比度传递函数测量的多层薄膜体模
机译:基于同步加速器的薄膜多层结构软X射线性能测量
机译:基于白光干涉仪的折射指数测量装置和方法,根据固体样品,流体样品,本体类型样品和薄膜样品以及薄膜样品和双折射材料的波长快速准确地测量了折射率
机译:白光扫描干涉仪测量透明薄膜指数折射的方法
机译:基于横向扫描白光干涉仪的表面高度测量装置及方法
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。