Thin Films; Experimental Data; Layers; Polarization; Reflectivity; Roughness; Synchrotron Radiation; X-Ray Diffraction;
机译:从光谱测量中提取薄膜的光学参数以用于多层结构的设计和光学性能
机译:通过原位X射线衍射测量研究宽温度范围内的AlN薄膜晶体特性:与基于AlN /蓝宝石的SAW结构性能的关系
机译:氢化非晶Si_(1-x)N_x薄膜的电子结构,采用软X射线发射和吸收测量
机译:使用同步加速器X射线在热循环过程中原位测量铜薄膜中的内部应力
机译:通过X射线干涉法/全息术在锗/硅多层基板上的超薄有机膜的轮廓结构。
机译:高性能ZnPc薄膜光敏材料有机场效应晶体管:多层电介质的影响系统和薄膜生长结构
机译:基于同步的薄膜多层结构的软X-射线的测量
机译:薄膜和多层膜的软X射线磁散射研究。