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陈光遂;
中国电子学会;
探针;
机译:Pigeon提供的薄层电阻/漏电流测量设备克服了非接触式四探针探针的局限性支持在各种条件下进行离子注入工艺评估
机译:通过电化学C-V特性曲线研究感光离子注入硅结构
机译:直流等离子体浸没离子注入中离子注入的不均匀性
机译:在线检测V T sub>-调整的径向不均匀性使用Hg探针C-V载流子深度在200 mm晶圆中注入剖析
机译:红外场景投影仪实时非均匀性校正的新技术。
机译:CC-V瓣:一种使用游离皮移植增强C-V乳头重建的新技术
机译:离子微探针评估恒温下沉淀的pecten maximus和mytilus edulis i>(双壳纲)壳方解石中mg / Ca,sr / Ca和mn / Ca比值的不均匀性
机译:mOs结构中电子现象的研究:脉冲C-V法
机译:修饰离子束应用中剂量的均匀性评估方法,离子注入深度的测量方法以及用于评估的材料
机译:用于评估植物遗传同一性的单链DNA探针的生产和使用同一方法评估植物遗传同一性的探针
机译:埋入物评估法,地下资源评估法,地下废物评估法,地下保存物评估法,地层结构评估法和建筑物内部监测法,全部使用硬X射线或Y射线
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