/V.S,2DEG≥4.5E12cm<'-2>.给出了HEMT的结构参数及定温Hall-van der Pauw法测试结果.'/>
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武一宾; 商耀辉; 陈昊;
中国电子学会;
中国有色金属学会;
化合物半导体材料; 分子束外延生长; 场效应器件; 结构参数; IP基;
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