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MCM—C中厚膜电阻寿命分布及退化规律的研究

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本文重点研究了MCM-C基板中厚膜电阻寿命的分布及退化规律,试验结果表明厚膜电阻的寿命分布服从威布尔分布.

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来源
《2003第十届全国可靠性物理学术讨论会》|2003年|156-162|共7页
会议地点西宁
作者
周仲蓉; 郭春生; 程尧海; 李志国; 邹琼; 张增照; 莫郁薇;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类可靠性及例行试验;
关键词
MCM-C; 厚膜电阻; 寿命分布;
入库时间 2022-08-17 11:07:46

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